KZ
bin
Негізгі бет
Қазірдің өзінде танымал
Тікелей эфир
Ұнаған бейнелер
Қайтадан қараңыз
Жазылымдар
Кіру
Тіркелу
Ең жақсы KZbin
Фильм және анимация
Автокөліктер мен көлік құралдары
Музыка
Үй жануарлары мен аңдар
Спорт
Ойындар
Комедия
Ойын-сауық
Тәжірибелік нұсқаулар және стиль
Ғылым және технология
14.8. SCAN path technique
15:41
Semiconductor Test -An Introduction
48:58
Não sabe esconder Comida
00:20
啊?就这么水灵灵的穿上了?
00:18
Wait for it 😂
00:19
Seja Gentil com os Pequenos Animais 😿
00:20
Scan Chains
Рет қаралды 12,464
Facebook
Twitter
Жүктеу
1
Жазылу 1,5 М.
MANDEEP SINGH
Күн бұрын
Пікірлер: 7
@raviykiran
3 жыл бұрын
very good consolidation of concepts. was thorough for revision.
@sivakumardurga6792
3 жыл бұрын
Crystal clear explanation thanks alot Sir please post more lectures on testing sir.
@manikyum
10 ай бұрын
Why did you stop uploading sir?
@dawlee123
2 жыл бұрын
very high quality explanation !
@harisaikrishna4120
3 жыл бұрын
Very Good Lecture. Thank you so much.
@yaminisaraswathi4562
Жыл бұрын
nice explaination sir
@snehakurle5148
3 жыл бұрын
Very nice ppt
15:41
14.8. SCAN path technique
Electron Tube
Рет қаралды 9 М.
48:58
Semiconductor Test -An Introduction
CP Ravikumar - Webinars
Рет қаралды 15 М.
00:20
Não sabe esconder Comida
DUDU e CAROL
Рет қаралды 57 МЛН
00:18
啊?就这么水灵灵的穿上了?
一航1
Рет қаралды 102 МЛН
00:19
Wait for it 😂
ILYA BORZOV
Рет қаралды 9 МЛН
00:20
Seja Gentil com os Pequenos Animais 😿
Los Wagners
Рет қаралды 68 МЛН
36:42
SCAN CELL INSERTION AND SCAN CHAIN FORMATION
SAKTHI SPEAKS
Рет қаралды 4,9 М.
15:39
12 1 DFT2 JTAG Intro
李建模(James CM Li)
Рет қаралды 25 М.
6:12
Whiteboard Wednesdays - Scan Compression Fundamentals
Cadence Design Systems
Рет қаралды 15 М.
1:31:38
DFT DEMO SES 24JUN2024
VLSIGuru - Best VLSI Training Institute
Рет қаралды 458
24:23
DFT Scan Insertion Q&A-1 (0-3 Exp)
DFT Interview questions (0-3 Years experience)
Рет қаралды 1,8 М.
19:13
Tessent Streaming Scan Network (SSN): No-compromise DFT - Geir Eide, Director, Tessent, Siemens EDA
SemIsrael - The Israeli Semiconductor Portal
Рет қаралды 6 М.
25:49
11 3 DFT1 - Test Mode Operation (SSF & Delay Test LOS/LOC)
李建模(James CM Li)
Рет қаралды 40 М.
1:00:33
Design for Test Fundamentals
Cadence Design Systems
Рет қаралды 55 М.
33:07
VLSI Testing # Memory Bist
Gagan Preet
Рет қаралды 8 М.
00:20
Não sabe esconder Comida
DUDU e CAROL
Рет қаралды 57 МЛН