筑波科技/NI Contactless Test Station III (CTS 3)

2021 年 9 月發布 非接觸式測試站 CTS 3 卓越加速器
NI 在 NFC 測試領域的最新創新：CTS 3。這個新的測試平台將幫助 NFC 技術的實施者執行更深入的驗證任務，並確保更快地獲得產品認證。
突破 NFC 測試的極限
CTS 3 是 NI 迄今為止在 NFC 測試領域最大的投資。考慮到NFC測試市場的發展以及NI前幾代NFC測試設備的眾多用戶的回饋，該工具以前所未有的便利性展示了一致性測試功能。更少的佈線、更少的設定時間，CTS 3 的 NFC 自動化測試願景從未如此有機。
此外，新的 NFC 訊號產生功能可以在驗證階段將您的設計推向極限。雜訊、串擾、過衝和所有其他參數調整的模擬可直接從我們的 MPManager API 進行。
CTS III 結合了以前從未在 NFC 測試中使用過的硬體資源。一流的轉換器、最強大的 FPGA…結合使用 NFC 訊號產生器、DAQ 板、VNA 的非回歸測試台現在可以簡化為 CTS III 的部署。這些部分使用以幾 GB/s 範圍運行的通訊總線組合在一起，以提高您自己的生產力。
與目前一代 NFC 測試平台相比，CTS 3 的目標是幫助用戶徹底提高生產力。例如，我們的基準測試顯示，在 EMVCo L1 PCD 模擬測試活動中，測試時間縮短了 75% 至 80%。
非接觸式測試站 III 通常用於以下環境：
• 嵌入 NFC 技術的產品的驗證和驗證
• 根據國際標準（例如 EMVCo、NFC Forum、ISO 10373-6）對嵌入 NFC 技術的產品進行預一致性和一致性測試
• 支援 NFC 的設備的互通性測試
接受測試的設備可能是：
• 智慧型手機
• 穿戴式裝置（手錶、助聽器等）
• 支付終端機
• 汽車門把手
• 非接觸式智慧卡
• 智慧型連網設備
• M2M 設備